熱電偶溫度計的常見問題

可以用符合DIN IEC60584的T型和J型熱電偶代替符合DIN43710的U型和L型熱電偶嗎？

不可以。T型和J型熱電偶具有不同的熱電壓特性，替換使用將會導致測量錯誤。U型和L型熱電偶只能用作老設備的替換件，并且隨著新廠房的建設成功，U型和L型熱電偶也會逐漸被淘汰。

MI電纜的壁厚為多少？

大多數制造商提供的MI電纜，其壁厚相當于外徑的10％。

什么是礦物絕緣 (MI) 電纜？

用于電阻溫度計的礦物絕緣電纜包含一條或多條銅線，這些銅線嵌在高度壓實的氧化鎂中，并且使用由1.4571不銹鋼等材料制成的套管屏蔽。對于熱電偶，則使用適合的熱電偶的電纜。用于熱電偶的電纜的標準護套材料為鉻鎳鐵合金2.4816。

什么是“晶間腐蝕”？

IC（晶間腐蝕）是一種在適當條件下發生在多數合金上的腐蝕形式，也稱為“晶粒解體”或“貧鉻”，通常沿著金屬晶粒間的分界面向內部擴展。對于鉻鋼合金，材料中的鉻在受熱時（通常在焊接時）會與碳結合產生碳化鉻，從而使材料失去防腐蝕性能（形成鈍化層），這種現象高碳鋼材料上尤為常見。在耐腐蝕鋼材中，可通過以下方式抑制IC發生：1、將碳與鈦或鈮結合產生碳化鈮或碳化鈦（穩定鋼），如1.4571 (AISI 316Ti)；2、降低碳含量，如1.4404 (AISI 316L)。這兩種方法都能有效的金屬晶粒間的鉻含量減少。

什么是“Green Rot”現象？

熱電偶受老化影響使其溫度/熱電壓特性發生改變。

對于K型熱電偶，“Green Rot”會使得NiCr引腳上出現貧鉻現象，造成熱電壓降低，因此在高溫條件下會導致熱電壓大幅改變。

缺氧會加速“Green Rot”現象，因為熱電偶表面無法形成防止進一步氧化的完整氧化層。鉻被氧化時，鎳沒有被氧化，這就導致了所謂的“Green Rot”。“Green Rot”現象會損壞熱電偶。應用于700°C以上環境中的NiCr-Ni熱電偶快速冷卻時，晶體結構中的某些狀態（短程有序）會在冷卻過程中凍結，這在K型熱電偶中會導致高達0.8mV的熱電壓變化（K效應）。

MI電纜的允許彎曲半徑是多少？

VDI/VDE 3511表2中建議的彎曲半徑R> 5 x D（D=MI電纜外徑），一些MI電纜制造商甚至將> 3 x D定為彎曲半徑。

什么是熱電壓（或塞貝克效應）？

該效應以托馬斯?約翰?塞貝克的名字命名，是指在兩種不同導電材料構成的閉合回路中，當兩個接點溫度不同時，回路中產生的電勢使熱能轉變為電能的一種現象。

安裝帶陶瓷熱電偶套管的高溫探頭時應采取什么措施？

為了避免內部熱應力損壞陶瓷熱電偶套管，安裝和拆卸應緩慢逐步地進行。安裝時，必須先預熱或緩慢插入，如，在1600°C時速度插入速度應為1-2cm/min，在1200°C時速度插入速度應為10-20cm/min